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半導體pct試驗箱系列是一種功能強大、應用廣泛的設備，它通過模擬的環境條件，可以評估產品的耐久性和可靠性，為產品的研發、改進和質量控制提供有力支持。主要用于測試半導體封裝的濕氣能力，將待測產品置于嚴苛的溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿著膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體。

hast高壓老化箱測試系統被廣泛應用于電子元器件行業、汽車電子領域、光電產業、醫療器械領域以及航天航空領域，用于測試半導體制造、電子元件、印刷電路板（PCB）、汽車電子控制系統、LED制造與檢測、光通信器件、小型植入式醫療器械、航天電子設備等產品的耐高溫高濕能力，多端口數據支持：具有USB接口，可直接復制記錄歷史曲線和數據，也可通過RS-232或RS-485接口控制機器并將數據存儲在計算機硬盤上

HAST高壓加速老化試驗箱定制是一種用于評估非氣密性封裝IC器件、半導體、微電子芯片、磁性材料及其他電子零件在高溫、高濕、高壓環境下的可靠性的設備。采用干濕球溫度控制、升溫溫度控制及濕潤飽和控制等三箱控制模式，滿足國際標準要求 。 。

HAST壽命試驗箱采用7寸真彩觸摸屏操作界面使得設備操作更為便捷，同時支持USB數據下載，便于試驗數據的記錄和分析。用于對電子元件、半導體、電路板等進行加速老化測試，以驗證其在惡劣環境下的性能和穩定性。相較于進口設備，國產HAST實驗箱具有更高的性價比，為中小企業提供了可靠的測試解決方案。

國產HAST試驗箱是一款高效能的試驗設備，專為在高濕高溫及高壓環境下測試材料和產品的耐久性而設計。它通過模擬氣候條件，加速材料老化過程，幫助研究人員和工程師快速評估產品在實際使用中的可靠性。該設備采用先進的控制系統，確保溫濕度和壓力的精確調節，滿足多樣化的測試需求。其雙層圓弧內膽設計有效避免了試驗過程中的結露滴水現象，保障了測試結果的準確性。